MicroFocus x - Πηγή ακτίνων

Απεικόνιση υψηλής ανάλυσης
Οι πηγές MicroFocus x - ακτίνων επιτυγχάνουν τα δευτερεύοντα μεγέθη σημείων Micron (έως 0,5 μm), επιτρέποντας την ανίχνευση ελαττωμάτων μικρότερη από 1 μm σε βιομηχανικά δείγματα. Αυτή η ακρίβεια είναι πολύ σημαντική για την ανάλυση μικροηλεκτρονικών εξαρτημάτων και κυττάρων μπαταρίας.

 

 

Ενσωματωμένο με υψηλά -} Τάση τροφοδοσίας, σύγχρονες μονάδες MFX ζυγίζουν κάτω από 50kg, ακόμη και σκέφτηκαν 5kg, διευκολύνοντας την επιθεώρηση inline ή oofline σε αυτοματοποιημένες γραμμές παραγωγής.

Βιομηχανία ημιαγωγών: Ανιχνεύει κενά των αρθρώσεων συγκόλλησης και ελαττώματα σύρματος δεσμών σε τσιπς και ρωγμές σε μέταλλο, όπως τα τμήματα διακεκομμένης, τα μέρη αλουμινίου κλπ.

 

Έλεγχος ποιότητας μπαταρίας: Ανίχνευση της ανομοιομορφίας ηλεκτροδίου και της κατανομής ηλεκτρολυτών στο λίθιο - ιόντων.

Προχωρημένα υλικά: Αναλύει το πορώδες των 3D τυπωμένων κραμάτων και των σύνθετων δομών.

Η παγκόσμια αγορά MFX αναμένεται να αυξηθεί σε CAGR 8,3% (2023 - 2032), οδηγείται από τη ζήτηση για μη καταστρεπτική δοκιμή του
Τα ηλεκτρικά οχήματα και τα συστήματα επιθεώρησης AI -.

Οι κινέζοι κατασκευαστές όπως η τεχνολογία Dinghua επιταχύνουν τον εντοπισμό, μειώνοντας την εξάρτηση από τους ξένους προμηθευτές.